镀层测厚仪主要有以下几类：
1、x-射线荧光测厚仪
2、β-射线测厚仪
3、库仑测厚仪
下面主要介绍一款x-射线荧光测厚仪

德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪
Compact ecoX-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能，不单性能优越，而且价钱超值，分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高，是五金电镀，饰，端子等行业的. 备有Compact eco ， Compact 5 ， Mixx4 ， Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。
可测元素范围：
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
自动测量功能：编程测量，自定测量
修正测量功能：底材修正，已知样品修正
定性分析功能：光谱表示，光谱比较
定量分析功能：合金成份分析
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。综合性能：镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析：可分析三层厚度，的FP分析软件，真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料)，为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件。
镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度，镀铜药水的铜离子浓度等)，简单的核对方式，无需购买标准药液。
定性定量分析：可定性分析20多种金属元素，并可定量分析成分含量。
光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比，可确定样品与标准件的差别，从而控制来料的纯度。
统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计，方便有效的控制品质。